Estudo da estrutura eletronica e cristalografica de filmes ultra-finos crescidos sobre monocristais metalicos por xps e difracao de fotoeletrons.

• Processo: 97/07286-2
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 1997
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 1999
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Jonder Morais
• Beneficiário: Jonder Morais
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 95/00732-1 - Estudo da estrutura eletrônica de ligas metálicas por luz síncrotron, AP.TEM
• Assunto(s): Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Filmes Ultra-Finos | Luz Sincroton | Monocristais Metalicos | Xpd | Xps

Resumo

O objetivo da pesquisa aqui proposta é estudar a estrutura eletrônica e cristalográfica de filmes ultra-finos (magnéticos e não-magnéticos) de átomos depositados na superfície de monocristais metálicos. Utilizaremos XPS e XPD, excitados por fontes de raios-x convencionais, na UNICAMP e por luz síncrotron obtida em linhas de luz do LNLS. Além do interesse para física fundamental, os elementos escolhidos para os substratos/filmes são ainda de interesse para duas áreas tecnologicamente importantes: catálise e armazenamento de dados. (AU)