Interface and surface characterization by Bragg topography of coherent hybrid and bragg-surface diffraction

• Processo: 00/11554-7
• Modalidade de apoio: Bolsas no Exterior - Pesquisa
• Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 2001
• Data de Término da vigência: 13 de fevereiro de 2001
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Sérgio Luiz Morelhão
• Beneficiário: Sérgio Luiz Morelhão
• Pesquisador Anfitrião: Jurgen Hartwig
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Instituição Anfitriã: European Synchrotron Radiation Facility (ESRF), França
• Assunto(s): Radiação síncrotron Semicondutores Topografia
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Heteroestruturas | Radiacao Sincrotron | Reflexoes Hibridas | Semicondutores | Topografia

Resumo

Neste experimento será feito, pela primeira vez, o estudo de reflexões hibridas coerentes em amostras de InGaP/GaAs [001] através de topografias com radiação síncrotron. Ainda, serão analisadas, caso haja tempo hábil, os materiais: SiC monocristalino e mNA (meta-Nitroanilina). As medidas serão realizadas na estação ID19 do ESRF, por ser esta a melhor existente no mundo para a realização de topografias. O objetivo deste trabalho é estudar a interface substrato/camada, através de reflexões múltiplas que ocorrem uma na rede do substrato e outra na rede da camada [App. Phys. Lett. 73, 2194 (1998)], para caracterizar propriedades tais como a propagação de defeitos a partir do substrato para a camada, distorções da rede em torno de interfaces, perfeição cristalina da superfície e visualização steps monoatômicos (degraus). (AU)