Cerâmicas e filmes dielétricos de óxidos semicondutores ferroelétricos nanoestruturados da família tetragonal tungstênio bronze: processamento, caracterização e propriedades

• Processo: 02/05998-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Jovens Pesquisadores
• Data de Início da vigência: 01 de julho de 2002
• Data de Término da vigência: 25 de julho de 2004
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Silvania Lanfredi
• Beneficiário: Silvania Lanfredi
• Instituição Sede: Faculdade de Ciências e Tecnologia (FCT). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Presidente Prudente. Presidente Prudente , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 01/13421-7 - Cerâmicas e filmes dielétricos de óxidos semicondutores ferroelétricos nanoestruturados da família tetragonal tungstênio bronze: processamento, caracterização e propriedades, AP.JP
• Assunto(s): Síntese química Materiais nanoestruturados Dielétricos Niobatos Espectroscopia de impedância
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Dieletricos | Espectroscopia De Impedancia | Materiais Nanoestruturados | Oxidos Niobatos | Polarizacao Ferroeletrica | Sintese Quimica

Resumo

A síntese química, o fenômeno de cristalização, a textura dos pós cerâmicos, a sinterização, a preparação de filmes finos/espessos de niobatos "sem-chumbo" da família tetragonal tungstênio bronze TTB serão investigados. Para tanto, ás técnicas de análise termogravimétrica (ATG), análise térmica diferenciai (ATD), calorimetria exploratória diferencial (DSC), espectroscopia vibracional de absorção na região do infravermelho (IV) e UV-Visível (UV-VIS), medida de área de superfície (BET), distribuição de tamanho de partículas e- medidas de potencial zeta serão utilizadas; Os fenômenos elétricos, dielétricos e estruturais em cerâmicas e filmes de niobatos da família TTB serão estudados com a ajuda da espectroscopia de impedância e polarização ferroelétrica. O trabalho consiste em desenvolver e aplicar procedimentos alternativos de análise dos dados intercorrelacionando as diversas técnicas mencionadas acima, bem como investigar a possibilidade experimental de detecção e explicação plausível de novas propriedades e fenômenos nestes materiais. Tais fenômenos envolvem a estabilidade estrutural, mudanças no processo de condução, perdas dielétricas e evolução da curva de permissividade dielétrica em função da temperatura e freqüência. A estabilidade estrutural nestas cerâmicas será também caracterizada por DSC e DRX a alta temperatura (DRXAT). (AU)