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Gravação e caracterização de nanoestruturas bidimensionais em relevo

Texto completo
Autor(es):
Elso Luiz Rigon
Número total de Autores: 1
Tipo de documento: Dissertação de Mestrado
Imprenta: Campinas, SP.
Instituição: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin
Data de defesa:
Membros da banca:
Lucila Helena Deliesposte Cescato; Leandro Russovski Tessler; Jacobus Willibrordus Swart
Orientador: Lucila Helena Deliesposte Cescato
Resumo

Nesta tese foram desenvolvidos processos para gravação de nanoestruturas bidimensionais em relevo, utilizando-se exposições holográficas e litografia. São descritas as condições experimentais para a gravação de máscaras em fotorresina com diferentes perfis, assim como para a litografia do padrão bidimensional em três diferentes materiais: alumínio, níquel e carbono amorfo hidrogenado. Para a litografia foram utilizadas técnicas de lift off, evaporação térmica, eletrodeposição seletiva, deposição química na fase vapor assistida por plasma (PECVD), e corrosão por plasma reativo (RIE). Foram estudadas três propriedades ópticas apresentadas pelas nanoestruturas bidimensionais fabricadas em materiais dielétricos e metálicos: efeito anti-refletor, existência de bandas proibidas de propagação para fótons, e efeito de transmitância extraordinária. Além do estudo teórico, foram realizadas medidas experimentais do efeito anti-refletor em estruturas gravadas em fotorresina sobre vidro, e da transmitância extraordinária de nanofuros em filmes metálicos (AU)

Processo FAPESP: 00/05905-1 - Gravação holográfica de estruturas bi e tridimensionais e estudo de suas propriedades ópticas
Beneficiário:Elso Luiz Rigon
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado