A espectrometria de fluorescencia de raios-X de energia dispersiva na medida de espessura de filmes polimericos e filmes metalicos espessos

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Autor(es):	Antenor Lopes de Jesus Filho Número total de Autores: 1
Tipo de documento:	Dissertação de Mestrado
Imprenta:	Campinas, SP.
Instituição:	Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Química
Data de defesa:	0000-00-00
Membros da banca:	Maria Izabel Maretti Silveira Bueno
Orientador:	Maria Izabel Maretti Silveira Bueno

Processo FAPESP:	97/01453-4 - Metodo indireto de medida de espessura de filmes por fluorescencia de raios-x de energia dispersiva.
Beneficiário:	Antenor Lopes de Jesus Filho
Modalidade de apoio:	Bolsas no Brasil - Mestrado