Texto completo
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| Autor(es): |
Carlos Roberto Negrão Teani
Número total de Autores: 1
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| Tipo de documento: | Tese de Doutorado |
| Imprenta: | Campinas, SP. |
| Instituição: | Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação |
| Data de defesa: | 1998-12-15 |
| Membros da banca: |
Alberto Martins Jorge
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| Orientador: | Alberto Martins Jorge |
| Resumo | |
Buscando alternativa para a realização de testes paramétricos de circuitos em linha de produção, os quais consomem percentual significativo dos recursos, é demonstrada a viabilidade da aplicação de teste sistêmico para este fim. O método baseia-se no comportamento dinâmico não linear dos dispositivos, comportamento este que é analisado através de mapas obtidos do espaço de estado do sistema dinâmico. Os resultados obtidos demonstram que é possível a identificação de pequenas diferenças paramétricas entre dispositivos e portanto a aplicação do método para testes do tipo passa/não-passa em linha de produção, com redução do tempo de teste sem perda de testabilidade (AU) | |
| Processo FAPESP: | 95/06915-0 - Teste de circuitos integrados de sinais mistos, uma abordagem sistêmica baseada na identificação de comportamento caótico |
| Beneficiário: | Carlos Roberto Negrão Teani |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Doutorado |