Análise de desgaste de técnicas de correção de erros em phase-change memories

Autor(es)

Caio Hoffman

• Tipo de documento: Dissertação de Mestrado
• Imprenta: Campinas, SP.
• Instituição: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Computação
• Data de defesa: 2013-01-07

Membros da banca

Guido Costa Souza de Araújo; André Rauber Du Bois; Mario Lúcio Cortês

• Orientador: Guido Costa Souza de Araújo; Rodolfo Jardim de Azevedo

Resumo

Phase-change memory (PCM) traz novos ensejos para indústria eletrônica. Devido às projeções de alta escalabilidade do processo de fabricação da PCM, cogita-se usá-la como memória principal em sistemas de computação, substituindo à tradicional DRAM cujos problemas de miniaturização do processo de fabricação demandam tecnologias ainda desconhecidas. Contudo, PCM tem problemas de durabilidade e técnicas de recuperação de falhas robustas são extremamente necessárias para recuperação e prolongamento do seu tempo de vida, medido em número de escritas. As técnicas mais comuns de recuperação de falhas são os códigos de correção de erros. Porém, outras técnicas de recuperação vêm sendo propostas na literatura, aproveitando as características de não-volatilidade da PCM. Neste trabalho, usando uma modelagem matemática, analisou-se como a probabilidade de bit-ip dos principais códigos de correção de erros { paridade, SECDED e BCH { e das principais técnicas de recuperação de falhas { ECP e SAFER { está relacionada _a durabilidade da PCM. A partir da taxa de bit-ip medida através da execução do SPEC2006 e por meio dos modelos matemáticos, comparou-se os resultados dos modelos de simulação utilizando-se a probabilidade teórica de 50% e a taxa obtida experimentalmente de 15%. Os resultados revelaram uma visível degradação da durabilidade dos mecanismos de recuperação de falhas que usam códigos de correção de erros, contradizendo os resultados da literatura. A técnica ECP foi à única que não mostrou degradação. Além disso, uma análise de eficiência energética foi feita, relacionando durabilidade da PCM e o consumo de energia. Novamente, a técnica ECP se destacou nos resultados, como também a técnica SAFER. Finalmente, foram propostos modelos analíticos probabilísticos das técnicas ECP, SECDED e uma análise da técnica PAYG baseada no modelo analítico da ECP (AU)

• Processo FAPESP: 11/05266-3 - Técnicas para melhoria de desgaste (wear-leveling) para memórias PRAM
• Beneficiário: Caio Hoffman
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado