| Processo: | 13/02160-5 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado |
| Data de Início da vigência: | 01 de setembro de 2013 |
| Data de Término da vigência: | 31 de agosto de 2015 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
| Pesquisador responsável: | Eduardo Granado Monteiro da Silva |
| Beneficiário: | Martín Eduardo Saleta |
| Instituição Sede: | Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Cristalografia |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Espalhamento de nêutrons | espalhamento de raios-X | Espalhamento Total | Função Distribuição de Pares Atômicos | Pdf | Cristalografia |
Resumo Neste projeto realizaremos experimentos de espalhamento total de raios-X e/ou neutrons em supercondutores pnictídeos de Fe e ferroelétricos do tipo "relaxors", analisando os resultados através do método de função de distribuição de pares (PDF). Esta técnica permite a investigação da estrutura atômica de curto e médio alcance, comparando-a com aquela obtida pelas análises convencionais de difração de raios-X e/ou neutrons e EXAFS. No caso dos supercondutores à base de Fe, pretendemos investigar de forma comparativa os efeitos da substituição de metais de transição M na estrutura atômica de curto e médio alcance na família BaFe2-xMxAs2, tentando correlacionar estas propriedades com a ocorrência ou não de supercondutividade para as diferentes substituições. Para o caso dos ferroelétricos "relaxors", pretendemos obter informação sobre a estrutura local em escala nanométrica para o sistema Pb1-xLaxZr1-yTiyO3, tentando identificar a presença de regiões nanométricas polares que levariam ao intrigante comportamento elétrico observado. Além do melhor entendimento da Física destas famílias de materiais, neste projeto pretendemos contribuir com a otimização da instrumentação e metodologia empregados nas medidas de espalhamento total e análise por PDF utilizando as facilidades da nova linha de luz XDS (X-ray diffraction and spectroscopy) do LNLS, utilizando também outras facilidades abertas ao redor do mundo, quando necessário. Também pretendemos analisar medidas de difração de raios-X por métodos convencionais (como método de Rietveld) e realizar experimentos e análise de EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure), completando uma extensa análise estrutural nestes materiais já iniciada em projetos anteriores. | |
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