Resolução Atômica em Microscopia de Força Atômica (AFM)

Resumo

Dentre as técnicas de microscopia com resolução atômica para análises de superfícies, destacam-se o conjunto de técnicas conhecidas de forma geral como microscopias de ponta de prova ("scanning probe microscopy" - SPM), dentre as quais as mais conhecidas são a microscopia de tunelamento (STM) e a microscopia de força atômica (AFM). A capacidade de realizar medidas de AFM com resolução subatômica ocorreu mais recentemente, e desenvolvimentos teóricos de modelagem e análise dessas imagens são assunto de interesse corrente. Neste projeto, utilizaremos uma combinação de técnicas teóricas (desde métodos ab initio de estrutura eletrônica a resultados fundamentais em mecânica estatística de não-equilíbrio) para desenvolver ferramentas de análise de imagens de AFM em resolução atômica ou subatômica, com foco particular no modo de "força lateral" ou FFM ("friction force microscopy"). (AU)