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(Referência obtida automaticamente do Web of Science, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Structural and optical temperature-dependent properties of PbS thin films deposited by radio frequency sputtering

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Autor(es):
Clemente da Silva Filho, Jose Maria [1] ; Marques, Francisco Chagas [1]
Número total de Autores: 2
Afiliação do(s) autor(es):
[1] Univ Estadual Campinas, Gleb Wataghin Inst Phys, UNICAMP, Rua Sergio Buarque de Holanda 777, Cidade Univ, BR-13083859 Campinas, SP - Brazil
Número total de Afiliações: 1
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING; v. 91, p. 188-193, MAR 2019.
Citações Web of Science: 2
Resumo

Lead sulfide (PbS) thin films deposited by radio frequency (RF) sputtering, in the 50-300 degrees C temperature range, were the subject of our investigation. We characterized the influence of deposition temperature on their structural, morphological, and optical properties by x-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM), and UV-visible and Raman spectroscopy. XRD revealed that a transition from an amorphous to a crystalline structure occurs in the 200-250 degrees C temperature range. One was also able to observe an increase in grain size (determined by AFM), as the temperature increased. We also found that a broad range of band gaps (from 0.72 eV to 2.12 eV) might also be obtained by varying the deposition temperature. (AU)

Processo FAPESP: 12/10127-5 - Pesquisa e desenvolvimento de materiais nanoestruturados para aplicações eletrônicas e de física de superfícies
Beneficiário:Fernando Alvarez
Linha de fomento: Auxílio à Pesquisa - Temático