Enhanced X-ray phase determination by three-beam diffraction

Morelhão‚ S.L.; Kycia‚ S.

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(Referência obtida automaticamente do Google Scholar, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Enhanced X-ray phase determination by three-beam diffraction

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Autor(es):	Morelhão‚ S.L. ; Kycia‚ S. Número total de Autores: 2
Tipo de documento:	Artigo Científico
Fonte:	Physical Review Letters; v. 89, n. 1, p. 15501, 2002.

Processo FAPESP:	97/13757-8 - Aplicações e desenvolvimentos da difração de raios-X em semicondutores
Beneficiário:	Sérgio Luiz Morelhão
Modalidade de apoio:	Auxílio à Pesquisa - Regular

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