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(Referência obtida automaticamente do Web of Science, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Extended depth from focus reconstruction using NIH ImageJ plugins: Quality and resolution of elevation maps

Texto completo
Autor(es):
de Oliveira Hein, Luis Rogerio [1] ; de Oliveira, Jose Alberto [1] ; de Campos, Kamila Amato [1] ; Reis de Oliveira Caltabiano, Pietro Carelli [1]
Número total de Autores: 4
Afiliação do(s) autor(es):
[1] UNESP Univ Estadual Paulista, DMT Dept Mat & Technol, LAIMat Mat Image Anal Lab, BR-12516410 Sao Paulo - Brazil
Número total de Afiliações: 1
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: MICROSCOPY RESEARCH AND TECHNIQUE; v. 75, n. 11, p. 1593-1607, NOV 2012.
Citações Web of Science: 4
Resumo

In this work, NIH ImageJ plugins for extended depth-from-focus reconstructions (EDFR) based on spatial domain operations were compared and tested for usage optimization. Also, some preprocessing solutions for light microscopy image stacks were evaluated, suggesting a general routine for the ImageJ user to get reliable elevation maps from grayscale image stacks. Two reflected light microscope image stacks were used to test the EDFR plugins: one bright-field image stack for the fracture of carbon-epoxy composite and its darkfield corresponding stack at same (x,y,z) spatial coordinates. Image quality analysis consisted of the comparison of signal-to-noise ratio and resolution parameters with the consistence of elevation maps, based on roughness and fractal measurements. Darkfield illumination contributed to enhance the homogeneity of images in stack and resulting height maps, reducing the influence of digital image processing choices on the dispersion of topographic measurements. The subtract background filter, as a preprocessing tool, contributed to produce sharper focused images. In general, the increasing of kernel size for EDFR spatial domain-based solutions will produce smooth height maps. Finally, this work has the main objective to establish suitable guidelines to generate elevation maps by light microscopy. Microsc. Res. Tech. 2012. (c) 2012 Wiley Periodicals, Inc. (AU)

Processo FAPESP: 10/08330-1 - Avaliação do comportamento de superfícies de fratura por fractais mistos em cerâmicos, polímeros, ligas metálicas e compósitos de matriz polimérica
Beneficiário:Kamila Amato de Campos
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Doutorado
Processo FAPESP: 11/01835-3 - Fractografia correlativa: convergência de técnicas de microscopia e processamento digital de imagens para a caracterização quantitativa e qualitativa de micromecanismos de fratura
Beneficiário:Luis Rogerio de Oliveira Hein
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
Processo FAPESP: 11/00403-2 - Avaliação dos mecanismos de endurecimento por precipitação em liga de alumínio por difração de elétrons retroespalhados e processamento digital de imagens, sob diferentes condições de pré-deformação a frio
Beneficiário:Pietro Carelli Reis de Oliveira Caltabiano
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Doutorado
Processo FAPESP: 11/01042-3 - Comportamento fractal de superfícies de fadiga de ligas aeronáuticas
Beneficiário:José Alberto de Oliveira
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica