Aplicação do Recozimento Simulado para a Reconstrução de Imagens por Tomografia por Impedância Elétrica

Resumo

A tomografia por impedância elétrica (TIE) é uma técnica de imageamento que realiza a reconstrução da distribuição de condutividade interna a um objeto a partir de correntes elétricas aplicadas e potenciais medidos no contorno do objeto. O problema de reconstrução pela TIE pode ser abordado como um problema de otimização que maximiza o casamento entre o domínio das impedâncias simuladas e as observadas. Este problema de otimização pode ser solucionado pelo recozimento simulado, mas com um elevado custo computacional devido ao custo de avaliação da função objetivo. Thiago de Castro Martins, durante o seu pós-doutoramento (FAPESP 2009/14699-0), estudou uma variação do recozimento simulado aplicado à tomografia por impedância elétrica em que a função objetivo é avaliada parcialmente, e a convergência do algoritmo foi acelerada. Renato Seiji Tavares, durante o seu doutorado, continuará as pesquisas objetivando reduzir ainda mais o tempo computacional aplicando técnicas de processamento paralelo, programação do GPU, modificando parâmetros do recozimento simulado, criando novas heurísticas (de fora para dentro e malha adaptativa), e criando o recozimento simulado multi-objetivo. Com objetivo de melhorar a qualidade do imageamento, serão iniciados estudos para utilizar dados obtidos por meio de tomografia de ultrassom.