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13th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Imaging

Processo: 16/11812-4
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
Data de Início da vigência: 04 de setembro de 2016
Data de Término da vigência: 16 de setembro de 2016
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Sérgio Luiz Morelhão
Beneficiário:Sérgio Luiz Morelhão
Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Aminoácidos  Radiação síncrotron  Cristalografia  Simulação por computador 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:aminoácidos | caracterização de filmes expitaxiais | difração de monocristais | Isolante topológicos | Radiação Síncrotron | Simulação Computacional | cristalografia
Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre o auxílio:
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Publicações científicas (4)
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
MORELHAO, SERGIO L.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.; CALLIGARIS, GUILHERME A.; NISBET, GARETH. X-ray dynamical diffraction in amino acid crystals: a step towards improving structural resolution of biological molecules via physical phase measurements. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, n. 3, p. 689-700, . (14/21284-0, 14/08819-1, 16/11812-4, 12/01367-2, 12/15858-8)
MORELHAO, SERGIO L.; FORNARI, CELSO I.; RAPPL, PAULO H. O.; ABRAMOF, EDUARDO. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, p. 12-pg., . (16/11812-4)
MORELHAO, SERGIO L.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.; CALLIGARIS, GUILHERME A.; NISBET, GARETH. X-ray dynamical diffraction in amino acid crystals: a step towards improving structural resolution of biological molecules via physical phase measurements. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, p. 12-pg., . (12/01367-2, 16/11812-4, 14/08819-1, 14/21284-0, 12/15858-8)
MORELHAO, SERGIO L.; FORNARI, CELSO I.; RAPPL, PAULO H. O.; ABRAMOF, EDUARDO. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, n. 2, p. 399-410, . (16/11812-4)