| Processo: | 20/06257-7 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Brasil |
| Data de Início da vigência: | 01 de outubro de 2020 |
| Data de Término da vigência: | 30 de setembro de 2021 |
| Área do conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
| Pesquisador responsável: | Adalberto Fazzio |
| Beneficiário: | Adalberto Fazzio |
| Pesquisador visitante: | Rodrigo Barbosa Capaz |
| Instituição do Pesquisador Visitante: | Instituto De Física/If/Ufrj , Brasil |
| Instituição Sede: | Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Campinas , SP, Brasil |
| Município da Instituição Sede: | Campinas |
| Vinculado ao auxílio: | 17/02317-2 - Interfaces em Materiais: Propriedades Eletrônicas, Magnéticas, Estruturais e de Transporte, AP.TEM |
| Assunto(s): | Materiais nanoestruturados |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | atomic force microscopy | Nanomateriais |
Resumo
Dentre as técnicas de microscopia com resolução atômica para análises de superfícies, destacam-se o conjunto de técnicas conhecidas de forma geral como microscopias de ponta de prova ("scanning probe microscopy" - SPM), dentre as quais as mais conhecidas são a microscopia de tunelamento (STM) e a microscopia de força atômica (AFM). A capacidade de realizar medidas de AFM com resolução subatômica ocorreu mais recentemente, e desenvolvimentos teóricos de modelagem e análise dessas imagens são assunto de interesse corrente. Neste projeto, utilizaremos uma combinação de técnicas teóricas (desde métodos ab initio de estrutura eletrônica a resultados fundamentais em mecânica estatística de não-equilíbrio) para desenvolver ferramentas de análise de imagens de AFM em resolução atômica ou subatômica, com foco particular no modo de "força lateral" ou FFM ("friction force microscopy"). (AU)
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