Resolução Atômica em Microscopia de Força Atômica (AFM)

• Processo: 20/06257-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Brasil
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 2020
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2021
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Adalberto Fazzio
• Beneficiário: Adalberto Fazzio
• Pesquisador visitante: Rodrigo Barbosa Capaz
• Instituição do Pesquisador Visitante: Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ). Instituto de Física (IF) , Brasil
• Instituição Sede: Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Campinas , SP, Brasil
• Município da Instituição Sede: Campinas
• Vinculado ao auxílio: 17/02317-2 - Interfaces em materiais: propriedades eletrônicas, magnéticas, estruturais e de transporte, AP.TEM
• Assunto(s): Materiais nanoestruturados
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: atomic force microscopy | Nanomateriais

Resumo

Dentre as técnicas de microscopia com resolução atômica para análises de superfícies, destacam-se o conjunto de técnicas conhecidas de forma geral como microscopias de ponta de prova ("scanning probe microscopy" - SPM), dentre as quais as mais conhecidas são a microscopia de tunelamento (STM) e a microscopia de força atômica (AFM). A capacidade de realizar medidas de AFM com resolução subatômica ocorreu mais recentemente, e desenvolvimentos teóricos de modelagem e análise dessas imagens são assunto de interesse corrente. Neste projeto, utilizaremos uma combinação de técnicas teóricas (desde métodos ab initio de estrutura eletrônica a resultados fundamentais em mecânica estatística de não-equilíbrio) para desenvolver ferramentas de análise de imagens de AFM em resolução atômica ou subatômica, com foco particular no modo de "força lateral" ou FFM ("friction force microscopy"). (AU)

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

FIUZA, TANNA E. R.; FOCASSIO, BRUNO; BETTINI, JEFFERSON; SCHLEDER, GABRIEL R.; RODRIGUES, MURILLO H. M.; SOUZA JUNIOR, JOAO B.; FAZZIO, ADALBERTO; CAPAZ, RODRIGO B.; LEITE, EDSON R.. Visualization of electron beam-induced desintering of nanostructured ceramics at the atomic scale. CELL REPORTS PHYSICAL SCIENCE, v. 5, n. 2, p. 14-pg., 2024-02-21. (19/04527-0, 20/06257-7, 13/07296-2, 21/10672-2, 17/02317-2, 17/18139-6)

FOCASSIO, BRUNO; FIUZA, TANNA E. R.; BETTINI, JEFFERSON; SCHLEDER, GABRIEL R.; RODRIGUES, MURILLO H. M.; JUNIOR, JOAO B. SOUZA; LEITE, EDSON R.; FAZZIO, ADALBERTO; CAPAZ, RODRIGO B.. Stability and Rupture of an Ultrathin Ionic Wire. Physical Review Letters, v. 129, n. 4, p. 6-pg., 2022-07-18. (20/06257-7, 13/07296-2, 19/04527-0, 17/02317-2, 17/18139-6)