EMU: Otimização do difratômetro de raios-X Bruker D8-Advance do LAMULT/IFGW para investigação de amostras policristalinas

• Processo: 23/17127-5
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Infraestrutura - Pequeno Médio Porte
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2024
• Data de Término da vigência: 31 de agosto de 2027
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Eduardo Granado Monteiro da Silva
• Beneficiário: Eduardo Granado Monteiro da Silva
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Pesquisadores associados: Diego Muraca
• Assunto(s): Materiais Difração por raios X Materiais nanoestruturados Policristais
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Bruker D8 | Ciência dos materiais | difração de raios-X | difratômetro de pó | Nanomateriais | policristais | Ciência dos materiais

Resumo

Trata-se de uma proposta de upgrade de um difratômetro de raios-X Bruker D8 Advance, localizado no Laboratório Multiusuários (LAMULT) do IFGW, adquirido através de Processo Fapesp no. 09/54047-2. Este equipamento tem uma mecânica excepcional em relação aos difratômetros de raios-X disponíveis no mercado, permitindo uma excelente precisão e reprodutibilidade nos movimentos realizados durante uma varredura. Além disso, por não se tratar de um equipamento de bancada (table-top) e sim de um equipamento de médio porte, as distâncias fonte-amostra e amostra-detetor são suficientemente grandes para que a resolução angular dos difratogramas, em condições otimizadas, seja superior em comparação aos difratômetros de raios-X de bancada. Além disso, este equipamento permite diversas configurações para que amostras de diferentes naturezas possam ser estudadas. Além da configuração padrão para difração de pó (theta-2theta com feixe divergente), um círculo de Euler pode ser anexado, possibilitando a movimentação da amostra com vários graus de liberdade. Além disso, um espelho de Göbel próximo à fonte está disponível, transformando o feixe divergente que sai do tubo de raios-X em um feixe paralelo em direção à amostra, com a opção de fendas Soller para colimar o feixe espalhado. Estas opções permitem que amostras monocristalinas e filmes finos epitaxiais ou policristalinos possam também ser estudados. Assim, este equipamento, se bem explorado e com os acessórios apropriados, é capaz de gerar dados de difração e refletividade de raios-X de alta qualidade, e pode atender os usuários do Laboratório Multiusuários do IFGW/UNICAMP em uma ampla gama de situações e problemas pelos próximos anos. (AU)