| Processo: | 23/17107-4 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Programa Infraestrutura - Pequeno Médio Porte |
| Data de Início da vigência: | 01 de setembro de 2024 |
| Data de Término da vigência: | 31 de agosto de 2027 |
| Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Metalurgia Física |
| Pesquisador responsável: | Rene Ramos de Oliveira |
| Beneficiário: | Rene Ramos de Oliveira |
| Instituição Sede: | Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). São Paulo , SP, Brasil |
| Município da Instituição Sede: | São Paulo |
| Pesquisadores associados: | Andre Paulo Tschiptschin |
| Assunto(s): | Cristalografia Difração por raios X Tensão residual Caracterização estrutural |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Cristalografia | Difração de Raios X | orientação cristalográfica | tensão residual | Caracterização de materiais |
Resumo
Este projeto se baseia na aquisição de um equipamento, difratômetro de raios X com acessórios para análises de padrão de difração, textura cristalográfica, tensão residual e filmes finos, uma vez que essas análises específicas não se encontram facilmente disponíveis no estado se São Paulo e possuem um número limitado de profissionais especialistas, dificultando o desenvolvimento de trabalhos e demais projetos científicos e tecnológicos que necessitam dessas análises. Farão parte deste projeto as instituições: IPEN, IFSP, IMT, EPUSP e UFABC. Os equipamentos atuais que operam no IPEN (adquiridos por projetos FAPESP) contam com mais de 20 anos de uso e fora do plano de manutenção pela representante do fabricante. Operando desde a década de 1980, o laboratório DRX do IPEN executou um extenso número de análises o que geraram centenas de trabalhos acadêmicos, publicações e demais projetos de pesquisa nestes anos, formando profissionais e desenvolvendo tecnologia para o país (AU)
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