Aquisição de um sistema de microscopia de tunelamento e força atômica (STM/AFM)

• Processo: 95/03720-4
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de julho de 1996
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 1997
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Roberto Mendonça Faria
• Beneficiário: Roberto Mendonça Faria
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Microscopia de tunelamento Microscopia de força atômica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Afm | Microscopia De Tunelamento | Stm

Resumo

Este pedido de auxílio visa à implantação das técnicas de microscopia de tunelamento (SIM) e de força atômica (AFM), no Departamento de Física e Ciência dos Materiais do IFSC de São Carlos Este sistema será empregado para pesquisas em diversos tipos de materiais, na pesquisa de propriedades fundamentais e de possíveis aplicações de semicondutores, vidros e filmes sol/gel, polímeros e filmes ultrafinos e cerâmicas. (AU)