| Processo: | 96/06767-4 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Regular |
| Data de Início da vigência: | 01 de outubro de 1996 |
| Data de Término da vigência: | 30 de setembro de 1998 |
| Área do conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química |
| Pesquisador responsável: | Mauricio Urban Kleinke |
| Beneficiário: | Mauricio Urban Kleinke |
| Instituição Sede: | Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Microscopia de força atômica Caos Fractais Silício poroso Eletroquímica |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Caos | Eletroquimica | Fractal | Microscopia De Forca Atomica | Silicio Poroso |
Resumo
O objetivo deste projeto é a caracterização da auto-similaridade na topografia de amostras de silício poroso, utilizando microscopia de força atômica. As amostras de SP serão obtidas a partir de wafers de Si com dopagens e orientações distintas, submetidas à uma série de densidades de corrente distintas, em solução de ácido fluorídrico em etanol. Serão realizadas medidas da dimensão fractal desta superfície, para buscar correlações entre estas medidas e outras características físicas, químicas ou físico-químicas do silício poroso obtido. (AU)
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