Caos-espaco temporal: dimensao fractal do silicio poroso caracterizada por microscopia de forca atomica.

• Processo: 96/06767-4
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 1996
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 1998
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
• Pesquisador responsável: Mauricio Urban Kleinke
• Beneficiário: Mauricio Urban Kleinke
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Microscopia de força atômica Caos Fractais Silício poroso Eletroquímica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Caos | Eletroquimica | Fractal | Microscopia De Forca Atomica | Silicio Poroso

Resumo

O objetivo deste projeto é a caracterização da auto-similaridade na topografia de amostras de silício poroso, utilizando microscopia de força atômica. As amostras de SP serão obtidas a partir de wafers de Si com dopagens e orientações distintas, submetidas à uma série de densidades de corrente distintas, em solução de ácido fluorídrico em etanol. Serão realizadas medidas da dimensão fractal desta superfície, para buscar correlações entre estas medidas e outras características físicas, químicas ou físico-químicas do silício poroso obtido. (AU)