Desenvolvimento de material de referência silício metálico grau químico

• Processo: 00/06551-9
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 2001
• Data de Término da vigência: 31 de janeiro de 2003
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Química Analítica
• Pesquisador responsável: Queenie Siu Hang Chui
• Beneficiário: Queenie Siu Hang Chui
• Instituição Sede: Instituto de Pesquisas Tecnológicas S/A (IPT). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Metrologia química Poluentes ambientais
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Contaminantes | Incertezas De Medicoes | Metrologia Quimica | Padrao Analitico

Resumo

A exatidão de resultados analíticos em laboratórios químicos que analisam o silício metálico grau químico não pode ser comprovada, devido à falta de materiais de referência com matrizes reais. Com o objetivo de contribuir para a rastreabilidade das análises químicas desse material, será desenvolvido material de referência para composição química de silício metálico, com teores de fósforo, manganês, titânio, cálcio, alumínio, ferro e contaminantes (a serem identificados) certificados. O projeto contará com pesquisadores do IPT, IPEN, do IQUSP e CTM-SP, que participarão de estudos para a homogeneidade das amostras, da validação dos métodos analíticos, de todas as etapas a serem conduzidas para obter-se o padrão analítico desejado. A etapa de certificação como Material de Referência Certificado seguirá as instruções das Normas da série ISO30 a 35, que lhe conferirá reconhecimento internacional. Em conjunto com pesquisadores da USF, software aplicativos orientados para as práticas metrológicas serão desenvolvidos, facilitando a uniformização dos cálculos para incertezas dos resultados de medições (AU)