Difference between kink and bipolar parasitic effects in thin film soi mosfet.

• Processo: 02/04870-5
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
• Data de Início da vigência: 09 de setembro de 2002
• Data de Término da vigência: 14 de setembro de 2002
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Materiais Elétricos
• Pesquisador responsável: João Antonio Martino
• Beneficiário: João Antonio Martino
• Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Interface
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Electrical Characterization | Interface | Parasitic Effects | Soi Technology