Sio2/si wafer surface modification with short silanes bearing n-heterocycles and a time-of-flight secondary ion mass spectroscopy of organic monolayer on si(111).

• Processo: 06/03457-8
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
• Data de Início da vigência: 28 de agosto de 2006
• Data de Término da vigência: 02 de setembro de 2006
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Ubirajara Pereira Rodrigues Filho
• Beneficiário: Ubirajara Pereira Rodrigues Filho
• Instituição Sede: Instituto de Química de São Carlos (IQSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Silício Estrutura eletrônica Espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Espectroscopia De Eletrons | Estrutura Eletronica | Filmes Finos Automontados | Silanizacao | Silicio | Xps | Fisica de Superficies e Interfaces