X-ray production yield in standardized thick target pixe.

• Processo: 05/51071-9
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 26 de junho de 2005
• Data de Término da vigência: 01 de julho de 2005
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Nuclear
• Pesquisador responsável: Nemitala Added
• Beneficiário: Nemitala Added
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Simulação Métodos de análise Pixe
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Amostras Espessas | Metodos Analiticos | Pixe | Poder De Freamento | Simulacao