High resolution x-ray diffraction analysis of sn te/sn1-x euxte superlattices grown on baf2(111) substrates.

• Processo: 03/02255-4
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 16 de junho de 2003
• Data de Término da vigência: 20 de junho de 2003
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Eduardo Abramof
• Beneficiário: Eduardo Abramof
• Instituição Sede: Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). São José dos Campos , SP, Brasil
• Assunto(s): Difração por raios X Caracterização estrutural Deformação
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Caracterizacao Estrutural | Deformacao | Difracao De Raios X | Separacao De Fase | Susuperredes