13th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Imaging

• Processo: 16/11812-4
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 04 de setembro de 2016
• Data de Término da vigência: 16 de setembro de 2016
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Sérgio Luiz Morelhão
• Beneficiário: Sérgio Luiz Morelhão
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Município da Instituição Sede: São Paulo
• Assunto(s): Aminoácidos Radiação síncrotron Cristalografia Simulação por computador
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: aminoácidos | caracterização de filmes expitaxiais | difração de monocristais | Isolante topológicos | Radiação Síncrotron | Simulação Computacional | cristalografia

Publicações científicas

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(As publicações científicas contidas nesta página são originárias da Web of Science ou da SciELO, cujos autores mencionaram números dos processos FAPESP concedidos a Pesquisadores Responsáveis e Beneficiários, sejam ou não autores das publicações. Sua coleta é automática e realizada diretamente naquelas bases bibliométricas)

MORELHAO, SERGIO L.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.; CALLIGARIS, GUILHERME A.; NISBET, GARETH. X-ray dynamical diffraction in amino acid crystals: a step towards improving structural resolution of biological molecules via physical phase measurements. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, n. 3, p. 689-700, JUN 2017. (14/21284-0, 14/08819-1, 16/11812-4, 12/01367-2, 12/15858-8)

MORELHAO, SERGIO L.; FORNARI, CELSO I.; RAPPL, PAULO H. O.; ABRAMOF, EDUARDO. . JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, p. 12-pg., 2017-04-01. (16/11812-4)

MORELHAO, SERGIO L.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.; CALLIGARIS, GUILHERME A.; NISBET, GARETH. . JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, p. 12-pg., 2017-06-01. (12/01367-2, 16/11812-4, 14/08819-1, 14/21284-0, 12/15858-8)

MORELHAO, SERGIO L.; FORNARI, CELSO I.; RAPPL, PAULO H. O.; ABRAMOF, EDUARDO. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, n. 2, p. 399-410, APR 2017. (16/11812-4)