19th IEEE Latin-American Test Symposium

• Processo: 17/26752-0
• Modalidade de apoio: Auxílio Organização - Reunião Científica
• Data de Início da vigência: 12 de março de 2018
• Data de Término da vigência: 16 de março de 2018
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Medidas Elétricas, Magnéticas e Eletrônicas, Instrumentação
• Pesquisador responsável: Marcilei Aparecida Guazzelli
• Beneficiário: Marcilei Aparecida Guazzelli
• Instituição Sede: Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil
• Assunto(s): Erro (falhas computacionais) Reuniões científicas Eventos científicos e de divulgação
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Defect-Based Test | Design for Reliable Embedded Software | Emi | Fault Modeling and Simulation | Memory Test and Repair | Radiation | System-on-Chip Test | Testes eletrônicos e simulações considerando efeitos combinados

Resumo

A 19ª edição do LATS contará com as seguintes atividades: - Sessões técnicas de apresentação de trabalhos: Tradicionalmente, o LATS seleciona aproximadamente 30 a 35 artigos dentre os submetidos para apresentação em 6 sessões técnicas regulares.- Palestras Convidadas: Estão previstos quatro Invited Talks. Cada um terá duração de 45 minutos: tal como descrito abaixo 1. Combining Structural and Functional Test for Safety-Critical Devices. 2. Biochip Security 3. Cyber Physical Systems Security Farshad Khorrami, Electrical & Computer 4. Losing Control: On the Effectiveness of Control-Flow Integrity under Stack Attacks. - Tutoriais Educacionais: Tradicionalmente o LATS apresenta dois tutoriais oferecidos pelo Test Technology Educational Program - TTEP a serem ministrados por especialistas de reconhecimento internacional, indicados pelo IEEE Computer Society por contribuições relevantes na área de projeto e teste de circuitos integrados. Estes tutoriais educacionais têm duração aproximada de 90 minutos cada um; e são destinados prioritariamente para alunos de IC, mestrandos e doutorandos.-Painel: dois painéis de discussões ("Combined Effects of Ionizing Radiation, Electromagnetic Interference and Aging on Nano-Era ICs" e "Security in Critical-Application Embedded Electronics") estão sendo organizados com foco em temas de integração da indústria com a academia. - Seis tutoriais com especialistas de reconhecimento internacional. 1. IC Technology and Computing: Past, Current and Future 2. Test Challenges in FinFET Based Circuits 3. Long-term ElectroMagnetic Robustness of Integrated Circuits 4. Aging-Critical Paths in Nanoelectronics and Their Rejuvenation 5. Single-Event Effects on Electronics - Trends between Ionizing Radiation and Technology Scaling 6. Modern Avionics: Chanllenges and Opportunities. (AU)