2018 MRS Spring Meeting & Exhibit

• Processo: 18/00176-5
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 02 de abril de 2018
• Data de Término da vigência: 06 de abril de 2018
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Sérgio Luiz Morelhão
• Beneficiário: Sérgio Luiz Morelhão
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Cristalografia Difração por raios X Isolantes topológicos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Topological Insulators | x-ray diffraction | Cristalografia

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

DINA, GABRIEL; GONZALEZ, ANAL GOMEZ; MORELHAO, SERGIO L.; KYCIA, STEFAN. Micro Grain Analysis in Plastically Deformed Silicon by 2nd-Order X-Ray Diffraction. MRS ADVANCES, v. 3, n. 39, p. 2347-2352, 2018. (18/00176-5)