Estudo das propriedades físicas e químicas de interfaces e superfícies de nanossistemas com técnicas de resolução atômica

• Processo: 05/03371-3
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2006
• Data de Término da vigência: 29 de fevereiro de 2008
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física
• Pesquisador responsável: Daniel Mario Ugarte
• Beneficiário: Luiz Henrique Galvao Tizei
• Instituição Sede: Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (ABTLuS). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Superfícies Espectroscopia Microscopia eletrônica de transmissão Propriedades eletrônicas Propriedades físico-químicas
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Atomic Resolution | Energy Filtered Imaging | Interfaces | Propriedades Físicas de materiais nanoestruturados

Resumo

Desenvolvimento de métodos experimentais de imagem e espectroscopia para a caracterização nano-objetos individuais, em particular de superfícies e interfaces para a obtenção de informação com alta resolução espacial (nanométrica a atômica). As experiências serão baseadas em microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução, combinando dados estruturais do arranjo atômico e dados espectroscópicos sobre as variações da composição química e sua relação com as modificações das propriedades eletrônicas. Dentre os objetos que serão estudados estão nanofios semicondutores, nanopartículas, nanotubos de carbono, etc.

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

TIZEI, Luiz Henrique Galvao. Análise quantitativa de imagens de microscopia eletrônica de transmissão de resolução atômica: aplicação ao estudo da rugosidade e interdifusão em interfaces de poços quânticos de InGaP/GaAs. 2008. Dissertação de Mestrado - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin Campinas, SP.