Crescimento de cristais e condutividade elétrica em vidros LAGP

• Processo: 12/24455-4
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2013
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2015
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Ana Candida Martins Rodrigues
• Beneficiário: Artur Clarindo Pinto
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Materiais não metálicos Baterias de íon-lítio Eletrólitos poliméricos Crescimento de cristais Condutividade iônica Cristalização Vitrocerâmica Vidro
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Condutividade Iônica | Crescimento de Cristais | Cristalização | Estrutura NASICON | vidros | Vitrocerâmicas | Vidros

Resumo

Devido à sua elevada condutividade iônica, compostos com estrutura Nasicon, de fórmula geral Li1+xAl xTi2-xP3O12 (LATP) ou Li1+xAl xGe2-xP2O12 (LAGP), têm sido amplamente investigados devido à possibilidade de seu emprego como eletrólitos sólidos em baterias de lítio. Além da rota clássica de sinterização, estes compostos têm sido obtidos também na forma de vitrocerâmicas, alegando-se inicialmente, como vantagem principal, a obtenção de um material com baixa porosidade. Trabalhos anteriores no nosso grupo de pesquisa demonstraram que os vidros LATP e LAGP apresentam nucleação no volume, abrindo a possibilidade para o controle microestrutural destas vitrocerâmicas e para o estudo das relações microestrutura-condutividade elétrica. No entanto, apesar do grande interesse despertado pela rota vitrocerâmica, ainda não estão disponíveis em literatura dados sobre taxas de nucleação ou crescimento de cristais em vidros destas famílias. Assim, será objetivo principal deste projeto, a medida experimental das taxas de crescimento de cristais em vidros LAGP. Como segundo objetivo, serão realizadas medidas de condutividade elétrica nas amostras utilizadas para as medidas de taxas de crescimento, a fim de se investigar o comportamento da condutividade elétrica em vidros LAGP parcialmente cristalizados, em função de sua fração cristalizada.(AU)