Caracterização topográfica de implantes Ti-cp com superfície usinada e modificada por feixe de laser

• Processo: 16/05264-4
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 2017
• Data de Término da vigência: 31 de dezembro de 2017
• Área de conhecimento: Ciências da Saúde - Odontologia - Cirurgia Buco-maxilo-facial
• Pesquisador responsável: Francisley Ávila Souza
• Beneficiário: Ana Flávia Piquera Santos
• Instituição Sede: Faculdade de Odontologia (FOA). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araçatuba. Araçatuba , SP, Brasil
• Assunto(s): Implantodontia Topografia Implantes dentários Implantes osseointegrados Microscopia eletrônica de varredura
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: implantes dentários | microscopia eletrônica de varredura | modificação por feixe de laser | Topografia | Implantodontia

Resumo

As modificações realizadas na morfologia, nas propriedades químicas, físico-químicas da superfície do implante e a sua influência sobre o processo de osseointegração tem sido o objetivo de muitos estudos ao longo dos últimos anos. O objetivo deste estudo será de caracterizar implantes osseointegráveis (Ti-cp) com superfície usinada (SU), superfície modificada por laser (SL) e superfície modificada por laser seguido da deposição de silicato de sódio (SS). Para tal será realizado a caracterização topográfica por meio da microscopia eletrônica de varredura, espectrometria de energia dispersiva MEV-EDX, e microscopia de força atômica. Obter-se-á também medidas de rugosidade média, medidas de rugosidade em secção transversal, ângulo de contato e Difratometria de raios X - DRX das três superfícies. Os dados obtidos pela análise de rugosidade (rugosidade média) serão levados à análise de variância e ao teste t de Tukey. (AU)