Utilização de técnicas de microscopia de força atômica na caracterização de materiais poliméricos

• Processo: 99/06351-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2000
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2002
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
• Pesquisador responsável: Maria do Carmo Gonçalves
• Beneficiário: Eduardo Radovanovic
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 95/03636-3 - Morfologia de materiais poliméricos orgânicos e inorgânicos, AP.TEM
• Assunto(s): Polímeros (materiais) Blendas Microscopia eletrônica Microscopia de força atômica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Blendas | Caracterizacao Morfologica | Microscopia De Forca Atomica | Microscopia De Forca Quimica | Microscopia Eletronica | Polimeros

Resumo

A microscopia de força atômica (AFM) é uma técnica especialmente interessante para a caracterização da morfologia de materiais poliméricos, por possibilitar a obtenção de imagens com alta resolução, sem danificar e sem a necessidade de preparação prévia das amostras. Neste projeto é proposta a investigação detalhada da morfologia de blendas, copolímeros e híbridos, através do uso de diferentes técnicas de AFM, bem como de microscopias eletrônicas de varredura de alta resolução e de transmissão. (AU)