Montagem e testes de um espectrometro de correlacao angular gama-gama perturbada com 4 detectores de baf2.

• Processo: 04/13166-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 2005
• Data de Término da vigência: 31 de janeiro de 2006
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Rajendra Narain Saxena
• Beneficiário: Márcio Eduardo Mercúrio
• Instituição Sede: Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Campos Hiperfinos | Coincidencias Gama-Gama | Correlacao Angular Pertubada | Espectrometro Gama

Resumo

Pretende-se construir um novo espectrômetro de correlação angular gama-gama perturbada (TDPAC), para atender crescente demanda por parte dos pesquisadores e estudantes do grupo que utilizam este equipamento no Laboratório de Interações Hiperfinas (LIH) do CRPq. O espectrômetro será composto de 4 detectores de BaF2 dispostos num plano horizontal formando angulo de 90º entre cada detector. A sistema eletrônico associado a espectrômetro contem módulos eletrônicos, em sua maioria, comercialmente disponíveis com exceção de um roteador que já foi desenvolvido e construído em LIH. O espectrômetro terá capacidade para acumular 12 espectros de coincidências gama-gama atrasada simultaneamente. Os testes finais do conjunto espectrômetro-roteador serão realizados através de medidas de interação quadrupolar do 181Ta em háfnio metálico e em HfO2, do 111Cd em cádmio e em paládio e, adicionalmente, de campo hiperfino magnético do 181Ta e do 111 Cd em níquel, e do 140Ce em gadolínio. Como todos os parâmetros hiperfinos destes materiais são bem conhecidos da literatura, será possível a constatação do correto funcionamento do espectrômetro. Além disso devem ser determinados parâmetros tais como resolução no tempo do conjunto detector-sistema eletrônico, tempo morto, linearidade do ADC e eficiência global do sistema. (AU)