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Problemas de otimização em óptica

Processo: 00/13748-3
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Doutorado
Data de Início da vigência: 01 de abril de 2001
Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2005
Área de conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Matemática - Matemática Aplicada
Pesquisador responsável:José Mário Martinez Perez
Beneficiário:Sergio Drumond Ventura
Instituição Sede: Instituto de Matemática, Estatística e Computação Científica (IMECC). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Filmes Finos | Mpec | Otimizacao Global

Resumo

Continuação e aperfeiçoamento dos procedimentos desenvolvidas na tese de mestrado, procedimentos estes que tem se mostrado muito eficientes. O tempo computacional para estimar a espessura, ao mesmo tempo que a absorção e a refração, ainda estão elevados, e para reduzi-los se faz necessário incorporar novos algoritmos de otimização global. Os algoritmos já existentes não se mostraram eficientes para produzir estimativas de constantes ópticas em filmes muito finos (espessura menor que 50nm). O bom comportamento do algoritmo da tese de mestrado em filmes de 80nm introduziu novas perspectivas. Além disso, existe o problema de aproximar uma "boa forma" das funções de absorção e refração. Esta pode ser encarada como um MPEC (mathematical programming with equilibrium constraints). Deste ponto de vista, será estudará a aplicação de algoritmos de restauração inexata e programação quadrática seqüencial. Por fim, há o desenho de filtros para filmes finos, que é outro problema importante em Óptica. Nesse caso, procura-se determinar as espessuras de diversas camadas de filmes que, depositadas um em cima do outro, produzem transmitâncias desejadas. Esse problema será abordado com técnicas de otimização potencialmente desenvolvidas na Unicamp. (AU)

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Publicações acadêmicas
(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)
VENTURA, Sergio Drumond. Tecnicas de otimização para estimação de parametros de filmes finos. 2005. Tese de Doutorado - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Matemática, Estatística e Computação Científica Campinas, SP.