Luminescência de filmes finos de óxido de zinco contendo terras raras

• Processo: 00/02361-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 01 de maio de 2000
• Data de Término da vigência: 30 de abril de 2002
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Química Inorgânica
• Pesquisador responsável: Marian Rosaly Davolos
• Beneficiário: Sergio Antonio Marques de Lima
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Assunto(s): Terras raras Óxido de zinco Filmes finos Luminescência
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Concentradores Solar | Fed | Filmes Finos | Luminescencia | Oxido De Zinco | Terra Rara

Resumo

Dentre as várias aplicações dos materiais luminescentes, os concentradores solar luminescentes (CSL), como fonte alternativa de energia elétrica, e os field emission displays (FED), como dispositivos de painéis planos multicoloridos, vem ganhando grande destaque nas pesquisas desenvolvidas atualmente. O óxido de zinco é um material foto, eletro, piezo e catodoluminescente que apresenta alta absorção na região do UV e excitação catódica a baixos potenciais, podendo servir como matriz hospedeira de íons terras raras (TR). Este material apresenta grande potencial de aplicação em CSL e FED. Investigaremos a preparação do ZnO contendo TR através de um dos métodos: precipitação homogênea, sol-gel alcóxido e não-alcóxido e Pechini afim de se obter o material com boas características morfológicas e ópticas para obtenção de filmes finos. O suporte vítreo para deposição dos filmes terá sua superfície modificada através do processo hidrotérmico. Os filmes finos de óxido de zinco contendo TR serão obtidos por dip-coating sobre a superfície microporosa do vidro plano tratado hidrotérmicamente e espera-se que estes apresentem boa adesão, homogeneidade, transparência, e emissão, características fundamentais para seu emprego na construção de CSL e FED. A caracterização envolverá as técnicas: difratometria de raios-X, microscopia eletrônica de varredura, espectroscopias vibracional no IV e eletrônica de absorção UV-Vis, de luminescência e m-lines (medida de espessura). (AU)