Síntese em alto nível com auto teste incorporado

• Processo: 95/01881-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 18 de outubro de 1995
• Data de Término da vigência: 31 de julho de 1996
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Circuitos Elétricos, Magnéticos e Eletrônicos
• Pesquisador responsável: Jose Vieira Do Vale Neto
• Beneficiário: Jefferson Perez Rodrigues Costa
• Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Circuitos integrados Softwares
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Asic | Auto-Teste | Compilacao De Silicio | Projeto De Ci | Testabilidade

Resumo

O objetivo principal deste trabalho e a implementação de um programa de computação que realiza a síntese em alto nível de circuitos integrados de aplicação específica com auto teste incorporado. Este programa de computação deverá ser desenvolvido na linguagem C e ser incorporado ao compilador de silício MACH do LIRMM (Laboratoire D'Informatique et Robotique et Mocroélectronique -Montpellier, França). (AU)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

COSTA, Jefferson Perez Rodrigues. Um método de síntese da via de dados para circuitos integrados de aplicação específica auto-testáveis.. 2000. Dissertação de Mestrado - Universidade de São Paulo (USP). Escola Politécnica (EP/BC) São Paulo.