Texto completo
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| Autor(es): |
Jefferson Perez Rodrigues Costa
Número total de Autores: 1
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| Tipo de documento: | Dissertação de Mestrado |
| Imprenta: | São Paulo. |
| Instituição: | Universidade de São Paulo (USP). Escola Politécnica (EP/BC) |
| Data de defesa: | 2000-11-06 |
| Membros da banca: |
Jose Vieira do Vale Neto;
Douglas Casagrande;
Wang Jiang Chau
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| Orientador: | Jose Vieira do Vale Neto |
| Resumo | |
Alocação é uma tarefa da síntese de alto nível com a qual se obtém a definição do caminho de dados obedecendo restrições de hardware e otimizando a área e o desempenho do ASIC resultante. Testabilidade é uma seqüência de procedimentos que assegura que o ASIC está funcionando corretamente. Auto-testabilidade é o caso onde todo o procedimento de teste é implementado no próprio chip. Um projeto é dito completamente testável quando, em modo teste, todas as falhas possíveis são detectáveis. Esta dissertação apresenta um método para se considerar a testabilidade do ASIC durante o processo de alocação. Durante o processo de alocação, algumas restrições a mais que as habitualmente usadas, garantem esta auto-testabilidade. Usualmente, este tipo de problema de otimização é NP-Completo. No nosso caso, algumas heurísticas são usadas para se alcançar uma boa solução num tempo de computação aceitável. Esta dissertação apresenta as heurísticas de nosso algoritmo de alocação e um estudo de caso que valida o processo inteiro. (AU) | |
| Processo FAPESP: | 95/01881-0 - Síntese em alto nível com auto teste incorporado |
| Beneficiário: | Jefferson Perez Rodrigues Costa |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Mestrado |