Teste de circuitos integrados de sinais mistos, uma abordagem sistêmica baseada na identificação de comportamento caótico

• Processo: 95/06915-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de janeiro de 1996
• Data de Término da vigência: 31 de dezembro de 1998
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Medidas Elétricas, Magnéticas e Eletrônicas, Instrumentação
• Pesquisador responsável: Alberto Martins Jorge
• Beneficiário: Carlos Roberto Negrão Teani
• Instituição Sede: Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação (FEEC). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Atratores Circuitos eletrônicos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Atratores | Bifurcacao | Caos | Circuitos | Sistemas | Testes

Resumo

Tendo em vista que a atividade de teste representa uma etapa importante, tanto no que se refere ao tempo quanto ao custo das fases de desenvolvimento e produção de circuitos, propõe-se um trabalho de pesquisa nesta área. O objetivo do trabalho é a realização de uma análise sistêmica dos circuitos, com enfoque nos de sinais mistos, reduzindo o tempo de teste paramétrico. O trabalho de pesquisa consiste na identificação de comportamento caótico determinístico das variáveis de saída, em função das variações de parâmetros de controle, ou planos de fase observáveis. A criação de um dicionário de falhas possibilitará a utilização dos resultados na avaliação paramétrica de circuito. (AU)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

TEANI, Carlos Roberto Negrão. Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear. 1998. Tese de Doutorado - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação Campinas, SP.