Algoritmo de tomografia por impedancia eletrica (tie) baseado em simulated annealing.

• Processo: 04/11159-1
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2005
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2007
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia Biomédica - Bioengenharia
• Pesquisador responsável: Raul Gonzalez Lima
• Beneficiário: Claudia Natalia Lara Herrera
• Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Método dos elementos finitos Simulated annealing
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Elementos Finitos | Simulated Annealing | Teoria Da Estimacao

Resumo

A Tomografia por Impedância Elétrica (TIE) é um método de obtenção de imagens que visa estimar propriedades elétricas, como resistividade ou condutividade no interior de um meio, a partir do conhecimento de medidas elétricas na fronteira. Por meio da TIE, é possível monitorar de forma contínua e não invasiva os pulmões durante a ventilação artificial. Entre os objetivos do projeto temático 01/05303-4 da FAPESP encontra-se desenvolver algoritmos para obter imagens absolutas das diversas estruturas torácicas. O algoritmo baseado em Simulated Annealing(SA) que se pretende desenvolver neste trabalho apresenta como principal vantagem com respeito aos outros já desenvolvidos pelo grupo de investigação da TIE baseados em Newton Raphson, Filtro estendido de Kalman e o Método de Otimização Topológica, sua capacidade de encontrar mínimos globais. O mínimo global tem grande relevância clínica. (AU)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

HERRERA, Claudia Natalia Lara. Algoritmo de tomografia por impedância elétrica baseado em Simulated Annealing.. 2007. Dissertação de Mestrado - Universidade de São Paulo (USP). Escola Politécnica (EP/BC) São Paulo.