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Espectroscopia atômica do silício, argônio e xenônio

Texto completo
Autor(es):
Fulvio Andres Callegari
Número total de Autores: 1
Tipo de documento: Tese de Doutorado
Imprenta: Campinas, SP.
Instituição: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin
Data de defesa:
Membros da banca:
Antonio Gomes Trigueiros; Mario Jose Garavaglia; Cesar Jose Bonjuani Pagan; Roberto Antonio Clemente; Lisandro Pavie Cardoso
Orientador: Antonio Gomes Trigueiros
Resumo

O tema central desta Tese é a espectroscopia atômica de emissão de átomos mediana e altamente ionizados. O objetivo principal é a classificação de linhas e níveis energéticos desconhecidos pertencentes a ditos átomos, assim como a determinação de outras características, por exemplo, as forças de oscilador das transições. São apresentadas as forças de oscilador para todas as transições conhecidas ate o momento do Si III utilizando um método semiempírico. É feito também um estudo espectral do Xe IX, Ar V e Ar VII, do qual surgiram níveis energéticos e transições as quais são apresentadas nesta tese pela primeira vez. Descrevemos também as fontes espectrais theta-pinch e capilar, utilizadas para obter os espectros de Argônio e Xenônio respectivamente, junto com a montagem de um espectrógrafo de incidência normal. São também descritos um conjunto de programas de cálculo computacionais os quais fornecem valores "ab-initio" das quantidades relevantes do trabalho em espectroscopia e permitem finalmente a interação com os dados experimentais, de forma tal que as nossas medidas dos níveis de energia são avaliados por ditos cálculos (AU)

Processo FAPESP: 96/06848-4 - Espectroscopia atomica de emissao do silicio, argonio e escandio no vacuo ultra violeta, vuv.
Beneficiário:Fulvio Andres Callegari
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Doutorado