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Proposta de método para caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos utilizando dispositivos MEMS.

Texto completo
Autor(es):
Marcelo Silva Guimarães
Número total de Autores: 1
Tipo de documento: Dissertação de Mestrado
Imprenta: São Paulo. , gráficos, ilustrações, tabelas.
Instituição: Universidade de São Paulo (USP). Escola Politécnica (EP/BC)
Data de defesa:
Membros da banca:
Amilton Sinatora; Marcelo Nelson Paez Carreno; Luiz Otávio Saraiva Ferreira
Orientador: Amilton Sinatora
Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica
Indexada em: Banco de Dados Bibliográficos da USP-DEDALUS; Biblioteca Digital de Teses e Dissertações - USP
Localização: Universidade de São Paulo. Biblioteca Central da Escola Politécnica; FD-3030; Universidade de São Paulo. Escola Politécnica. Biblioteca de Engenharia Mecânica, Naval e Oceânica; FD-3030
Resumo

Um fator importante para o desenvolvimento de projetos de microssistemas é o conhecimento de propriedades termomecânicas dos materiais e a compreensão dos mecanismos de falhas. Este trabalho estuda o comportamento mecânico de microvigas atuadas termicamente e propõem um método para ser utilizado na caracterização de propriedades termomecânicas de filmes finos. Fabricou-se vigas de Oxinitreto de Silício em que se aplicou a microscopia Nomarski para observar a deformação e a ocorrência do fenômeno de flambagem. (AU)

Processo FAPESP: 00/01068-8 - Estudo tribológico de um microdispositivo atuado termicamente
Beneficiário:Marcelo Silva Guimarães
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado