Espectrometria de raios-x com diodos de Si

Autor(es)

RODRIGO R. de MAGALHAES

• Tipo de documento: Dissertação de Mestrado
• Imprenta: São Paulo.
• Instituição: Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN/CNEN)
• Data de defesa: 2000-00-00
• Orientador: Carmem Cecilia Bueno Tobias
• Processo FAPESP: 97/12485-4 - Espectrometria de raios-X com diodos de Si
• Beneficiário: Rodrigo Rodrigues de Magalhães
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado