SISTEMA DE DETECÇÃO DE LUZ PARA MICROSCÓPIOS DE VARREDURA DE TUNELAMENTO

A presente invenção se configura essencialmente como um sistema que compreende: um espelho parabólico geometricamente configurado (1); pelo menos uma lente convergente (2); um manipulador de posicionamento preciso (3); pelo menos uma fibra ótica (4); pelo menos um espectrômetro ótico (5); meios para isolar termicamente (6) o suporte do espelho das demais partes do manipulador; e opcionalmente meios para refrigerar o suporte do espelho em Ultra Alto Vácuo (7). O referido manipulador de posicionamento preciso (3) posiciona o espelho parabólico (1) com precisão por meio de uma configuração ortogonal de transladores piezelétricos que permite que o sistema atue com alta precisão, mais especificamente tendo alta eficiência de coleção e transmissão ótica. O sistema conta ainda com uma mesa ótica (8) acessória localizada em ambiente externo fora da câmara de ultra alto vácuo (UHV) compreendendo elementos óticos livres para maior eficiência na injeção na fibra ótica (4) que leva a luz ao espectrômetro (5).