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Estudo comparativo do cálculo de tensões residuais em filmes de TiN por Difração de Raios X e por indentação instrumentada

Processo: 07/04731-9
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Data de Início da vigência: 01 de outubro de 2007
Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2008
Área de conhecimento:Engenharias - Engenharia Mecânica - Processos de Fabricação
Pesquisador responsável:Deniol Katsuki Tanaka
Beneficiário:Carlos Eduardo Keutenedjian Mady
Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Máquinas-ferramenta   Filmes finos   Tensão residual   Difração por raios X
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:difração de raios-X | Filmes finos | Indentação Instrumentada | Tensões residuais | Matrizes e Ferramentas

Resumo

Este projeto tem como objetivo o cálculo de tensões residuais em filmes finos de nitreto de titânio (TiN) por dois métodos diferentes, para posterior comparação. Um dos métodos é a difração de raios-x que é tradicionalmente usada para esse fim. O outro é o ensaio de indentação instrumentada; técnica bem desenvolvida para cálculo de dureza e módulo de elasticidade, mas ainda não totalmente desenvolvida para cálculo de tensões residuais. Tentativas de medida dessas tensões com base nos dados de indentação instrumentada serão feitas com base no método proposto por Suresh & Giannakopoulos, bem como em métodos desenvolvidos mais recentemente. Ao longo do projeto, filmes de nitreto de titânio serão depositados em substratos de aço inoxidável em diversas corridas de deposição. Nas mesmas, os parâmetros de processo serão variados, de forma a obter-se filmes com diferentes níveis de tensão residual.

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
KEUTENEDJIAN MADY, CARLOS EDUARDO; RODRIGUEZ, SARA AIDA; GOMEZ, ADRIANA GOMEZ; SOUZA, ROBERTO MARTINS. Numerical analysis of different methods to calculate residual stresses in thin films based on instrumented indentation data. Journal of Materials Research, v. 27, n. 13, p. 1732-1741, . (07/04731-9)
MADY‚ C.E.K.; RODRIGUEZ‚ S.A.; GÓMEZ‚ A.G.; SOUZA‚ R.M.. Effects of mechanical properties‚ residual stress and indenter tip geometry on instrumented indentation data in thin films. SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, v. 205, n. 5, p. 1393-1397, . (07/04731-9)