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Observação e caracterização de não-estruturas por microscopia de força atômica

Processo: 98/14769-2
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários
Data de Início da vigência: 01 de agosto de 1999
Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2001
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física
Pesquisador responsável:Omar Teschke
Beneficiário:Omar Teschke
Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Assunto(s):Microscopia  Microscopia de força atômica  Filmes finos 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Dupla Camada | Filmes Finos | Intercalacao | Microscopia De Forca Atomica | Scaling
As informações de acesso ao Equipamento Multiusuário são de responsabilidade do Pesquisador responsável
Página web do EMU: Página do Equipamento Multiusuário não informada
Tipo de equipamento: Tipo de Equipamento Multiusuário não informado
Fabricante: Fabricante não informado
Modelo: Modelo não informado

Resumo

Observação e caracterização de não-estruturas por microscopia de força atômica. (AU)

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Publicações científicas (11)
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
SOUZA CRUZ‚ T.G.; KLEINKE‚ MU; GORENSTEIN‚ A.. Evidence of local and global scaling regimes in thin films deposited by sputtering: An atomic force microscopy and electrochemical study. Applied Physics Letters, v. 81, n. 26, p. 4922-4924, . (98/14769-2, 98/00501-8)
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