Silicon substrate orientation influence on structural and magnetic properties of BaFe12O19 thin films obtained by RF magneton sputtering

Autor(es)

Rossi, Vinicius Pretti ^[1] ; Bonini, Ricardo Pereira ^[1] ; Goncalves, Andre Marino ^[1] ; Gualdi, Alexandre Jose ^[1] ; Eiras, Jose Antonio ^[1] ; Zabotto, Fabio Luis ^[1]

Afiliação do(s) autor(es)

^[1] Univ Fed Sao Carlos, Phys Dept, Sao Carlos, SP - Brazil

• Tipo de documento: Artigo Científico
• Fonte: Journal of Magnetism and Magnetic Materials; v. 504, JUN 15 2020.
• Citações Web of Science: 0

Resumo

In this work, the fabrication of BaFe12O19 (BaM) thin films by radio-frequency sputtering and the influence of substrate orientation on structural, microstructure and magnetic properties were carried out. Measurements pointed out the deposition time and power have no significant effect over stoichiometry in the studied condition, producing films with satisfying Fe:Ba rate confirmed by EDX analysis. The orientation of the Si substrate showed to be essentially correlated with in-plane orientation of BaM phase. Both Si (1 0 0) and (1 1 1) substrates privileged in-plane orientation of the c-axis of BaM and atomic force microscopy found needle-like grains spread randomly onto substrates, although Si (1 1 1) substrate exhibited higher magnetic anisotropy. (AU)

• Processo FAPESP: 09/54082-2 - EMU: projeto para aquisição de um magnetômetro de amostra vibrante que utiliza como sensor um dispositivo supercondutor de interferência quântica acoplado (Squid-VSM) com circuito fechado de criogenia
• Beneficiário: Ernesto Chaves Pereira de Souza
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários
• Processo FAPESP: 19/03110-8 - Síntese e caracterização fotovoltaica de filmes finos à base de perovskitas ferroelétricas e multiferróicas para aplicação em células solares
• Beneficiário: Mahmoud Saleh Mohammed Alkathy
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado