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Silicon substrate orientation influence on structural and magnetic properties of BaFe12O19 thin films obtained by RF magneton sputtering

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Autor(es):
Rossi, Vinicius Pretti ; Bonini, Ricardo Pereira ; Goncalves, Andre Marino ; Gualdi, Alexandre Jose ; Eiras, Jose Antonio ; Zabotto, Fabio Luis
Número total de Autores: 6
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: Journal of Magnetism and Magnetic Materials; v. 504, p. 6-pg., 2020-06-15.
Resumo

In this work, the fabrication of BaFe12O19 (BaM) thin films by radio-frequency sputtering and the influence of substrate orientation on structural, microstructure and magnetic properties were carried out. Measurements pointed out the deposition time and power have no significant effect over stoichiometry in the studied condition, producing films with satisfying Fe:Ba rate confirmed by EDX analysis. The orientation of the Si substrate showed to be essentially correlated with in-plane orientation of BaM phase. Both Si (1 0 0) and (1 1 1) substrates privileged in-plane orientation of the c-axis of BaM and atomic force microscopy found needle-like grains spread randomly onto substrates, although Si (1 1 1) substrate exhibited higher magnetic anisotropy. (AU)

Processo FAPESP: 19/03110-8 - Síntese e caracterização fotovoltaica de filmes finos à base de perovskitas ferroelétricas e multiferróicas para aplicação em células solares
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Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Processo FAPESP: 09/54082-2 - EMU: projeto para aquisição de um magnetômetro de amostra vibrante que utiliza como sensor um dispositivo supercondutor de interferência quântica acoplado (Squid-VSM) com circuito fechado de criogenia
Beneficiário:Ernesto Chaves Pereira de Souza
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários