Interfacial water dielectric-permittivity-profile measurements using atomic force microscopy

Teschke‚ O.; Ceotto‚ G.; De Souza‚ EF

Busca avançada

Pesquisar - Utilize aspas para obter um resultado mais específico

Índice

Área do conhecimento

Ano de início

Entree

(Referência obtida automaticamente do Google Scholar, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Interfacial water dielectric-permittivity-profile measurements using atomic force microscopy

Texto completo
Autor(es):	Teschke‚ O. ; Ceotto‚ G. ; De Souza‚ EF Número total de Autores: 3
Tipo de documento:	Artigo Científico
Fonte:	Physical Review E; v. 64, n. 1, p. 011605, 2001.

Processo FAPESP:	98/14769-2 - Observação e caracterização de não-estruturas por microscopia de força atômica
Beneficiário:	Omar Teschke
Modalidade de apoio:	Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários

URL curto