Equipamento multiusuário aprovado no Projeto FAPESP 2017/11986-5: controlador de interface do microscópio de força atômica

• Processo: 19/23181-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários
• Vigência: 01 de dezembro de 2019 - 30 de novembro de 2026
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Química Inorgânica
• Pesquisador responsável: Ana Flávia Nogueira
• Beneficiário: Ana Flávia Nogueira
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 17/11986-5 - Divisão de Pesquisa 1 - Portadores Densos de Energia, AP.PCPE
• Assunto(s): Eletrônica orgânica Microscopia de força atômica Microscopia Filmes finos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Eletrônica Orgânica | Filmes finos | materiais | microscopia de força atomica | Morfologia | Microscopia
• Página web do EMU: Página do Equipamento Multiusuário não informada
• Tipo de equipamento: Caracterização de Materiais - Análises de Superficies - Microscopia de sonda (AFM, STM)
• Fabricante: Fabricante não informado
• Modelo: Modelo não informado

Resumo

A microscopia de força atômica é uma microscopia muito utilizada para análise da superfície de filmes, com particularidade de filmes orgânicos, como polímeros e filmes muito finos, como filmes de grafeno. A microscopia de força Kelvin é uma variante dessa microscopia no modo não contato e importante para analisar áreas com potenciais diferentes na superfície do filme, podendo então localizar regiões de maior ou menor densidade eletrônica. Essa variante da microscopia de AFM tradicional mede a função trabalho entre amostra e contato. Com a nova configuração que está sendo solicitada será possível realizar imagens com maior resolução tanto para a identificação de diferentes fases, componentes, como também com muita maior sensibilidade para as medidas de Kelvin. (AU)