Analytical transmission electron microscope for spectroscopic nanocharacterization of materials.

• Processo: 02/04151-9
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 2004
• Data de Término da vigência: 31 de outubro de 2009
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Daniel Mario Ugarte
• Beneficiário: Daniel Mario Ugarte
• Instituição Sede: Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (ABTLuS). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Materiais nanoestruturados Espectroscopia
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Contraste Atomico | Eds | Eels | Nano-Analises

Resumo

This proposal aims to fund the expansion of the Electron Microscopy Facility operating at the LNLS (Grant FAPESP 96/04241-5) by the acquisition of a 200 kV Analytical TEM equipped with a Field Emission Gun (FEG), which will be configured for performing spectroscopic studies (Electron Energy Loss Spect., EELS; and Energy Dispersive X-ray Spect, EDX) with (sub)nanometer resolution. Many relevant basic/technological research projects can not be anymore developed at present at the LME and they depend on studies performed abroad. This new microscope will be fundamental to stay at state-of-art level in TEM based nanocharacterization of materials. This expansion of electron microscopy facility follows the suggestions of the International FAPESP Reviewing Committee formed by Prof. Gareth Thomas (University of Berkeley, USA) and Prof. Thomas Fidler (University of Vienna, Austria). (AU)

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

MONTORO, LUCIANO A.; MEDEIROS-RIBEIRO, GILBERTO; RAMIREZ, ANTONIO J.. Novel Approach for High-Resolution Elastic Behavior Assessment of Alloyed Strained Nanostructures. Journal of Physical Chemistry C, v. 114, n. 29, p. 12409-12415, JUL 29 2010. (02/04151-9, 07/05165-7)